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颜色面积图像传感器CVS1-RA系列可以通过检测晶片的颜色面积来判定晶片的有无，即使晶片上有水也可稳定检测。
图像传感器
型号：CVS1-RA系列
外观检测型相机MVS-PM-R可以使用多个检测窗口(Max.16)通过颜色面积检测晶片的位置。
尺寸测量型相机MVS-EM-R可以检测晶片之间的距离。
图像传感器
型号：MVS-PM-R + MVS-EM-R
外观检测型相机MVS-PM-R可以通过检测窗口位置确认其位置。
尺寸测量型相机MVS-EM-R可以测量边缘之间的距离。
图像传感器
型号：MVS-PM-R + MVS-EM-R
对射型边缘测量传感器TD1系列可以判别电子部件的方向。
位移传感器
型号：TD1系列
对射型边缘测量传感器TD1系列可以测量晶片边缘。
位移传感器
型号：TD1系列
经济型激光位移传感器短距离型CD33-30可以检测PC板的平整度。
位移传感器
型号：CD33-30
一体式激光位移传感器CD2H系列可以检测电子零部件有无/是否重叠。
位移传感器
型号：CD2H系列
超高精度激光位移传感器CDX系列可以测量智能手机的外壳高度(正反射模式)。
位移传感器
型号：CDX系列
高速·双数显光纤传感器D3RF系列可以检测零件的引脚。
光纤传感器
型号：D3RF系列
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